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ST-20掌上型方塊電阻測試儀
更新時間：2020-05-21 點擊次數：1236
ST-20掌上型方塊電阻測試儀
是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
◆ 特點
：
1
采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定
2
低功耗
3
采用單個電池供電，帶電池欠壓指示
4
儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm
5
特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6
探頭帶抗靜電模塊
◆ 技術指標：
測量范圍
基本量程：方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
擴展量程：方塊電阻100-1999(Ω/口)
測量不確定度
≤5%
探針規格
探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
恒流源
測量過程誤差：≤±0.8%
電源
9V疊層電池1節
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